Nat. Commun.:由二维材料中的界面扩散决定氧化还原控制的电荷掺杂
Yolerz Yolerz 2019-11-02

控制额外的电荷载流子对于操纵各种二维材料的电子,光学和磁性特性至关重要。但是,二维材料在空气和酸中普遍存在的空穴掺杂在其细节方面一直存在争议。浦项科技大学Sunmin Ryu等人证明了它们的共同起源是由氧和水分子的氧化还原对驱动的电化学反应。研究者使用WS2的实时光致发光成像和石墨烯的拉曼光谱,捕获了在二维材料与亲水性底物之间的二维纳米空间中的分子扩散,并表明后者容纳了水分子,同时还充当了水合溶剂。此外还证明根据能斯特方程,HCl诱导的掺杂受溶解的O2和pH值控制。

 

Kwanghee Park, Haneul Kang, Seonghyun Koo, DaeEung Lee, Sunmin Ryu, Redox-governed charge doping dictated by interfacial diffusion in two-dimensional materials, Nature Communications ,2019.

DOI: 10.1038/s41467-019-12819-w

https://www.nature.com/articles/s41467-019-12819-w

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