随着超低剂量（扫描）透射电子显微镜（（S）TEM）技术的发展，高灵敏度纳米材料的原子分辨率成像最近成为可能。然而，由于缺乏合适的样品制备方法，将这些技术应用于敏感散装材料的研究仍然具有挑战性。阿卜杜拉国王科技大学Yu Han和重庆大学Daliang Zhang等人研究发现，低温聚焦离子束 (cryo-FIB) 可以为这一挑战提供解决方案。

本文要点：

1）研究人员使用cryo-FIB成功地从金属有机框架（MOF）晶体和混合卤化物钙钛矿单晶薄膜太阳能电池中提取了薄样品，而不会破坏固有结构。

2）高质量的样品使随后的 (S)TEM 和电子衍射研究能够以原子分辨率揭示复杂的未知局部结构。获得的结构信息使我们能够解决 MOF HKUST-1 中的平面缺陷，三维重建 MOF UiO-66 中的伴随相，发现新的 CH3NH3PbI3 结构并定位其在单晶薄膜钙钛矿太阳能电池中的分布。

3）这项概念验证研究表明，cryo-FIB 具有处理高灵敏度材料的独特能力，这可以大大扩展电子显微镜的应用范围。

Cryogenic Focused Ion Beam Enables Atomic-Resolution Imaging of Local Structures in Highly Sensitive Bulk Crystals and Devices，J. Am. Chem. Soc. 2022

https://doi.org/10.1021/jacs.1c12794

https://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/jacs.1c12794