晶界在薄膜光电子器件的性能中起着关键作用，但在钙钛矿材料中的作用仍然没有被理解。限制进展的最大因素是无法识别晶界。非晶体技术可能会错误识别晶界。Adhyaksa等人通过使用固态EBSD检测器解决了这个问题，该检测器的灵敏度比传统的荧光屏和相机高6000倍。研究表明，晶界不是良性的，但具有1670 cm s^-1的复合速率，与晶体硅的复合速率相当。还观察到无定形晶界，其产生局部更亮的光致发光强度和更长的寿命。这种异常的晶界特征为小晶粒卤化钙钛矿薄膜的神秘长寿命和记录效率提供了可能的解释。它还提出了一种不依赖于表面钝化的钝化晶界的新方法，以在光电器件中实现更好的性能。

Adhyaksa, G. W. P., Brittman, S. et al. Understanding Detrimental and Beneficial Grain Boundary Effects in Halide Perovskites. Adv. Mater. 1804792

Doi:10.1002/adma.201804792.

https://doi.org/10.1002/adma.201804792