在本文中，德国马普研究所的Jurgen H. Smet等人在单层和多层石墨烯单晶上进行了X射线衍射的测量并将其与电化学诱导的锂嵌入相结合。他们通过掠入式衍射法观测到了嵌锂石墨烯的平面内布拉格衍射峰。他们将入射光聚焦到约10μm×10μm的区域通过镜面X射线反射率探测单个剥离的石墨烯薄片并利用递推帕拉特算法对实验数据进行建模从而获得了样品的特征晶体学参数。值得注意的是，研究人员可以直接提取双层/多层石墨烯的C轴晶格参数。虽然后者（多层石墨烯的c轴晶格参数）会随着锂化作用而逐渐增大，但是可以通过使用外围电化学电池布局来控制。该工作证明了原位X射线衍射在单个微米大小的单层和双层二维材料上的可行性。

Patrik Zielinski, Juegrn H. Smet et al, Probing Exfoliated Graphene Layers and Their Lithiation with Microfocused X-rays, Nano Letters, 2019

DOI: 10.1021/acs.nanolett.9b00654

https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acs.nanolett.9b00654