复旦大学,Nature Electronics!
米测MeLab 纳米人 2025-02-08

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研究背景

二维(2D)材料从其生长基板的大面积转移对于电子器件的集成至关重要。然而,转移厚度小于1纳米的材料容易受到损坏,现有的转移方法通常在横向尺寸、质量和精度方面存在一定的折衷。

在此,复旦大学刘利伟, 周鹏等在“Nature Electronics”期刊上发表了题为“A mass transfer technology for high-density two-dimensional device integration”的最新论文。他们报告了一种大规模转印技术,采用精确排列微柱的聚二甲基硅氧烷(PDMS)模具,轻柔地转移晶圆级2D阵列并堆叠范德华异质结构阵列。当模具与2D材料接触后,加入乙醇-水溶液,液体渗透到2D材料与生长基板之间的非接触区域,使薄膜发生剥离。

他们采用该方法转移了一个2英寸(~5cm)的单层二硫化钼(MoS₂)薄膜,包含超过100万个阵列,横向尺寸为20×20µm²,阵列密度为62,500个每平方厘米,且在一次操作中产率达到99%。通过该技术制造的不同器件架构的集成2D晶体管显示出约97.9%的器件产率(背栅),并且在电性能方面几乎没有损伤(顶栅和底栅)。作者还开发了一种毛细力辅助转移模型,以解释这一快速转移机制。
                  

研究亮点

  • 实验首次提出大规模转印技术,成功实现了晶圆级二维材料的转移和堆叠。通过使用精确排列微柱的聚二甲基硅氧烷(PDMS)模具,实验首次展示了能够轻柔转移2D阵列的技术,避免了传统方法中易损伤材料的问题。


  • 实验通过乙醇-水溶液辅助转移,实现了2D材料的剥离与转移。乙醇-水溶液渗透至2D材料与生长基板之间,利用毛细力作用使薄膜剥离,成功转移了一个2英寸(~5 cm)的单层二硫化钼(MoS₂)薄膜,转移阵列密度为62,500个每平方厘米,产率高达99%。


  • 实验通过该方法制造集成2D晶体管,成功展示了不同架构的2D器件。基于此技术制造的集成2D晶体管显示出约97.9%的器件产率,并且在顶栅与底栅电性能方面几乎无损伤。


  • 实验提出了毛细力辅助转移模型,成功解释了材料快速转移的机制,为大规模二维材料的转移提供了理论依据和技术路径。


图文解读

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图1:用于转移和打印晶圆级2D阵列的巨量转移打印mass transfer printing,MTP过程示意图。
                                                        
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图2:PDMS印模形状确定了各种类型MoS2阵列的巨量转移打印MTP。
                                                  
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 图3:基于毛细管现象的快速转移机制分析
                    
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图4:具有不同器件结构的MoS2-FET阵列的电学特性。
                
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图5:LED显示系统中,用于2D驱动电路的底栅MoS2-FET集成。
                                                                   

总结展望

本研究报告了一种用于转移二维(2D)材料阵列的大规模转印(MTP)技术。该方法利用软聚二甲基硅氧烷(PDMS)模具的粘度和周期性排列的微柱结构,使乙醇-水溶液渗透到2D材料与生长基板之间的界面,从而通过毛细力使2D材料轻松剥离或脱离,且几乎没有损伤。作者成功转移了来自2英寸薄膜的超过100万个MoS₂阵列,转移产率达到99%,阵列密度为每平方厘米62,500个。此外,范德华异质结构阵列可以通过重复转印两次来精确对准并堆叠。转移阵列的大小和形状主要由PDMS微柱决定,最小间距为10微米。作者开发了一个毛细力模型来研究快速转移机制,揭示了低极性溶液在加速过程中的关键作用,并研究了具有不同器件架构的2D器件集成。

底栅MoS₂场效应晶体管(FET)阵列的平均迁移率为15.62cm²V¹s¹,亚阈值斜率(SS)为0.15Vdec¹,阈值电压(VTH)为0.52V,开关比约为4.5×10。背栅MoS₂ FET阵列显示出97.9%的产率(从1000个背栅100×100阵列的晶体管中测得)。作者还基于AT89C51微控制器构建了一个完整的硬件系统,该系统控制一个8×8 MoS₂ FET阵列驱动一个8×8 LED矩阵显示屏。尽管进一步的研究仍然必要,但作者的MTP技术可能成为制造微尺度2D集成电路的有吸引力的方法,如图像传感器的像素电路和微型LED显示器的驱动电路。
                  
原文详情:
Liu, L., Cai, Z., Xue, S. et al. A mass transfer technology for high-density two-dimensional device integration. Nat Electron (2025). 
https://doi.org/10.1038/s41928-024-01306-w    

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