Ernest Abbe于1873年首次发现，远场显微镜的分辨率极限被认为是由光的数值孔径和波长决定的，大约为λ/2NA。随着上个世纪现代荧光显微镜和纳米复制方法的出现，这一定义不足以完全描述显微镜的分辨率。为了确定荧光显微镜的实际分辨率极限，光子噪声仍然是一个尚未纳入基于统计学的理论框架的重要因素。鉴于此，来自美国普渡大学的Fang Huang研究设计了一种信息密度测量方法，用于量化有限光子条件下荧光显微镜的理论分辨率。

文章要点：

1）该研究证实，所开发的方法可以量化各种荧光和超分辨率显微镜模式的实际分辨率极；

2）此外，该研究结果提供了预测不同光子水平下显微镜设计的可实现分辨率的潜力。

参考资料：

Li, Y., Huang, F. A statistical resolution measure of fluorescence microscopy with finite photons. Nat. Commun. (2024).

DOI：10.1038/s41467-024-48155-x

https://doi.org/10.1038/s41467-024-48155-x