硅表面合金和硅化物纳米层作为集成电路器件中的接触材料非常重要。

近日，意大利CNR-ISM研究所Fabio Ronci，Conor Hogan证明了亚单层 Si/Ag(001) 表面重构具有有趣的拓扑特性，该重构由基于平面双五边形 Si 部分链的准一维 Si-Ag 表面合金组成。

文章要点

1）该几何结构是使用密度泛函理论计算、扫描隧道显微镜和掠入射 x 射线衍射模拟相结合的方法确定的，并产生了与光发射测量结果高度一致的电子结构。

2）这项研究为二维材料和异质结构中的五边形几何结构提供了进一步的证据，并阐明了表面合金化在稳定其形成方面的重要性。

参考文献

Hogan, C., Sette, A., Saroka, V.A. et al. Double-pentagon silicon chains in a quasi-1D Si/Ag(001) surface alloy. Nat Commun 15, 9242 (2024).

DOI：10.1038/s41467-024-53589-4

https://doi.org/10.1038/s41467-024-53589-4