AM:二维半金属的范德瓦尔斯混合集成用于宽带光探测器
NavyLIu NavyLIu 2025-02-15

image.png由于其独特的光学和电学性能,2D半金属扩大了异质结构中的材料范围,使其超出了用于室温宽带检测应用的传统窄带隙材料。近日,香港理工大学Yuen Hong Tsang、郑州大学吴翟、Zeng Longhui概述了由异质结构设计的宽带光电探测器(PD)的前沿和最新进展,异质结构将2D半金属与几种不同维度的材料协同结合。

本文要点:

1) 作者从基础研究开始,对基本材料性能进行了深入分析,并总结了合成方法。然后,作者对这些光电探测器的分类、潜在的光电探测机制和优值进行了分析概述。随后,作者对异构集成设备进行了全面分析。

2) 该综述强调了宽带PD的各种光电应用,包括图像传感、光通信、位置敏感检测、集成传感和计算、自旋电子学和计算光谱学。最后,作者总结了推进二维半金属材料光电探测的挑战和机遇。

 

参考文献:

Xue Li et.al Van Der Waals Hybrid Integration of 2D Semimetals for Broadband Photodetection Adv. Mater. 2025

DOI: 10.1002/adma.202415717

https://doi.org/10.1002/adma.202415717

 



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